| 采购需求概况: | 该套系统由近远场天线测试系统、射频探针台、半导体器件参数分析仪、阻抗分析仪及直流探针台组成。近远场天线测试系统用于测量天线的电参数、辐射参数，以评价天线的性能。射频探针台用于为相关射频微波级别的芯片应用提供精确的测试。半导体参数分析仪用于芯片、器件的电流-电压（I-V）和电容-电压（C-V）及脉冲IV测试。阻抗分析仪用于芯片、器件和材料复数电阻抗的测试。直流探针台用于与测试仪器/测试系统配合来测试芯片/半导体器件相关电性能参数。通过上述部分的设备相互配合，该系统能够广泛支撑多领域、多频段的芯片和天线的评估测试。 |
